西安电子科技大学学报（自然科学版）2004，Vol.31Issue(6)：821-824,4.
闪速存储器中的热载流子可靠性研究
Study of the hot carrier reliability of the Flash Memory
摘要
关键词
闪速存储器/耦合率/应力导致的漏电流分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
郑雪峰,郝跃,刘红侠,李培咸,刘道广,韩晓亮..闪速存储器中的热载流子可靠性研究[J].西安电子科技大学学报（自然科学版）,2004,31(6):821-824,4.基金项目
国家863计划VLSI重大专项资助项目(2004AA1Z1070) （2004AA1Z1070）
国家部委预研计划资助项目(41308060305) （41308060305）
