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基于遗传算法的故障诊断的研究

姚文俊

现代电子技术2003，Vol.26Issue(23)：85-87,3.
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现代电子技术2003，Vol.26Issue(23)：85-87,3.

基于遗传算法的故障诊断的研究

Study of Genetic Algorithm in Fault Diagnosis

姚文俊1

作者信息

  • 1. 华中科技大学,电子与信息工程学院,湖北,武汉,430074
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摘要

关键词

遗传算法/故障诊断/并行搜索/全局搜索

分类

信息技术与安全科学

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姚文俊..基于遗传算法的故障诊断的研究[J].现代电子技术,2003,26(23):85-87,3.

现代电子技术

1004-373X

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