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一种直接由C-t参数确定未知掺杂样品产生寿命的方法

张秀淼

半导体学报Issue(1)：86-89,4.
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半导体学报Issue(1)：86-89,4.

一种直接由C-t参数确定未知掺杂样品产生寿命的方法

张秀淼1

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张秀淼..一种直接由C-t参数确定未知掺杂样品产生寿命的方法[J].半导体学报,1985,(1):86-89,4.

半导体学报

1674-4926

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