现代电子技术2006，Vol.29Issue(5)：87-89,3.
SoC可测性设计中的几个问题
Several Problems in Design for Testability of SoC
金志刚 1罗岚 1胡晨1
作者信息
- 1. 东南大学,国家专用集成电路系统工程研究中心,江苏,南京,210096
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摘要
关键词
可测性设计/扫描/内建自测试/片上系统分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
金志刚,罗岚,胡晨..SoC可测性设计中的几个问题[J].现代电子技术,2006,29(5):87-89,3.
