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SiCOH低介电常数薄膜的性质和键结构分析

王婷婷 叶超 宁兆元 程珊华

物理学报2005,Vol.54Issue(2):892-896,5.
物理学报2005,Vol.54Issue(2):892-896,5.

SiCOH低介电常数薄膜的性质和键结构分析

Characterization and bonding configuration of SiCOH low-k films

王婷婷 1叶超 1宁兆元 1程珊华1

作者信息

  • 1. 苏州大学物理科学与技术学院薄膜材料江苏省重点实验室,苏州,215006
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摘要

关键词

低介电常数/SiCOH薄膜/化学键结构

分类

数理科学

引用本文复制引用

王婷婷,叶超,宁兆元,程珊华..SiCOH低介电常数薄膜的性质和键结构分析[J].物理学报,2005,54(2):892-896,5.

基金项目

苏州大学薄膜材料江苏省重点实验室资助的课题. ()

物理学报

OA北大核心CSCDSCI

1000-3290

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