电子器件2008，Vol.31Issue(3)：904-906,910,4.
基于FSM的时序电路测试生成探析
Discussion of Sequential Circuits Testing Method Based on Finite State Machine
摘要
关键词
有限状态机/时序电路/转换故障分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王红霞,叶晓慧,何光进..基于FSM的时序电路测试生成探析[J].电子器件,2008,31(3):904-906,910,4.基金项目
海军军工项目资助(HGDJJ06018) （HGDJJ06018）
