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薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究

张秀成 聂彦 何华辉 江建军

华中科技大学学报(自然科学版)2004,Vol.32Issue(4):90-92,3.
华中科技大学学报(自然科学版)2004,Vol.32Issue(4):90-92,3.

薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究

Measurement for complex permittivity and complex permeability of film

张秀成 1聂彦 1何华辉 1江建军1

作者信息

  • 1. 华中科技大学电子科学与技术系,湖北,武汉,430074
  • 折叠

摘要

关键词

复介电常数/复磁导率/薄膜材料/矩形谐振腔

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张秀成,聂彦,何华辉,江建军..薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究[J].华中科技大学学报(自然科学版),2004,32(4):90-92,3.

华中科技大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

1671-4512

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