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一种基于PXI总线的通用测试分析系统

乐红才 王铁岭

现代电子技术Issue(6):9-11,3.
现代电子技术Issue(6):9-11,3.

一种基于PXI总线的通用测试分析系统

A General Test and Analyse System Based on PXIbus

乐红才 1王铁岭1

作者信息

  • 1. 西安工业学院,光电测试技术研究所,陕西,西安,710032
  • 折叠

摘要

关键词

PXI总线/测试分析系统/模块化/信号采集

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

乐红才,王铁岭..一种基于PXI总线的通用测试分析系统[J].现代电子技术,2003,(6):9-11,3.

现代电子技术

1004-373X

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