首页|期刊导航|现代电子技术|基于AVR ATmega169的张力检测仪设计

基于AVR ATmega169的张力检测仪设计OA

Design of Strain Gauge Based on AVR ATmega169

中文摘要

分析应变测量原理,应用应变片敏感栅作为传感器,结合仪表放大器电路和高集成度的单片机ATmega169实现低功耗便携式张力测试仪的设计.该系统功耗低、测量准确、直接数字读出,具有多种附加功能.成功解决了由经验判断引起的偏误过大问题.给出在实际应用中硬件电路和软件程序的实现方案.分析设计中常见的问题,并给出解决问题的思路.对相关的测量仪表设计、开发有一定参考作用.

王海棠;黄琦兰

天津工业大学,天津,300160天津工业大学,天津,300160

信息技术与安全科学

AVRATmega169应变计仪表放大器

《现代电子技术》 2006 (22)

9-11,3

评论

您当前未登录!去登录点击加载更多...