高电压技术1999,Vol.25Issue(4):91-92,2.
强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究
Study on Measurement of tanδ and Cx of Grading Capacitor under Strong Interference
韩宝银 1孙东明 2魏剑娜2
作者信息
- 1. 辽源电业局,辽源136200
- 2. 吉林省电力科学研究院,长春130021
- 折叠
摘要
关键词
干扰/测量/介损/电容分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
韩宝银,孙东明,魏剑娜..强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究[J].高电压技术,1999,25(4):91-92,2.