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强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究

韩宝银 孙东明 魏剑娜

高电压技术1999,Vol.25Issue(4):91-92,2.
高电压技术1999,Vol.25Issue(4):91-92,2.

强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究

Study on Measurement of tanδ and Cx of Grading Capacitor under Strong Interference

韩宝银 1孙东明 2魏剑娜2

作者信息

  • 1. 辽源电业局,辽源136200
  • 2. 吉林省电力科学研究院,长春130021
  • 折叠

摘要

关键词

干扰/测量/介损/电容

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

韩宝银,孙东明,魏剑娜..强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究[J].高电压技术,1999,25(4):91-92,2.

高电压技术

OA北大核心CSCD

1003-6520

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