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基于图象识别的高抛光透射面缺陷检测

郭启军 潘炼 钱新恩

计算技术与自动化2008,Vol.27Issue(4):95-97,3.
计算技术与自动化2008,Vol.27Issue(4):95-97,3.

基于图象识别的高抛光透射面缺陷检测

The Defect Checks of Transmission and Polishing Flat Surface Based on Image Recognition

郭启军 1潘炼 1钱新恩2

作者信息

  • 1. 武汉科技大学信息科学与工程学院,湖北武汉430081
  • 2. 期北汽车工业学院电气工程系,湖北十堰442002
  • 折叠

摘要

关键词

高抛光透射表面/图像分析/缺陷检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郭启军,潘炼,钱新恩..基于图象识别的高抛光透射面缺陷检测[J].计算技术与自动化,2008,27(4):95-97,3.

计算技术与自动化

OACSTPCD

1003-6199

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