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单晶YSZ的Xe+辐照损伤的电子显微分析

向霞 祖小涛 吴继红 朱莎 王鲁闵

强激光与粒子束2004，Vol.16Issue(1)：95-97,3.
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强激光与粒子束2004，Vol.16Issue(1)：95-97,3.

单晶YSZ的Xe+辐照损伤的电子显微分析

Electron microscopy study on irradiation damage of xenon-implanted yttria-stabilized zirconia single crystals

向霞 1祖小涛 1吴继红 1朱莎 2王鲁闵2

作者信息

  • 1. 电子科技大学,应用物理系,四川,成都,610054
  • 2. 美国密西根大学,核工程与放射科学系,安娜堡,MI 48109
  • 折叠

摘要

关键词

单晶YSZ/Xe+辐照/透射电子显微镜/辐照缺陷

分类

化学化工

引用本文复制引用

向霞,祖小涛,吴继红,朱莎,王鲁闵..单晶YSZ的Xe+辐照损伤的电子显微分析[J].强激光与粒子束,2004,16(1):95-97,3.

基金项目

国家自然科学基金-中国工程物理研究院联合基金资助项目(10376006) （10376006）

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-4322

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