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基于单片机的切纸机位移测量系统

张伟征 赵书俊 张大伟 李玮

现代电子技术2006,Vol.29Issue(11):96-97,100,3.
现代电子技术2006,Vol.29Issue(11):96-97,100,3.

基于单片机的切纸机位移测量系统

Measure System of Paper Cutter Displacements Based on Single Chip

张伟征 1赵书俊 1张大伟 1李玮1

作者信息

  • 1. 郑州大学,河南,郑州,450052
  • 折叠

摘要

关键词

单片机/切纸机/位移测量/串行LED/X25045

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张伟征,赵书俊,张大伟,李玮..基于单片机的切纸机位移测量系统[J].现代电子技术,2006,29(11):96-97,100,3.

现代电子技术

1004-373X

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