强激光与粒子束2008，Vol.20Issue(6)：973-976,4.
微通道板2.0～5.5 keV X射线透过率标定
Calibration of 2～5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate
黎航 1曹柱荣 1赵宗清 1巫顺超 1董建军 1易荣清 1陈凯2
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
- 2. 中国科学院,高能物理研究所,北京,100049
- 折叠
摘要
关键词
微通道板/X射线/透过率/同步辐射/标定分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
黎航,曹柱荣,赵宗清,巫顺超,董建军,易荣清,陈凯..微通道板2.0～5.5 keV X射线透过率标定[J].强激光与粒子束,2008,20(6):973-976,4.
