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光栅纹影偏折法测量二维层化流体密度梯度

孟涛 张明照 王克军 郭晓莉 王伯雄

光学精密工程2008,Vol.16Issue(6):973-977,5.
光学精密工程2008,Vol.16Issue(6):973-977,5.

光栅纹影偏折法测量二维层化流体密度梯度

Measurement of density gradient for 2D flow field using grating schlieren deflectometry

孟涛 1张明照 2王克军 1郭晓莉 1王伯雄2

作者信息

  • 1. 第二炮兵装备研究院,北京,100085
  • 2. 清华大学,精密仪器与机械学系,北京,100084
  • 折叠

摘要

关键词

Ronchi光栅/纹影法/小波分析/相位解调/流体密度梯度

分类

数理科学

引用本文复制引用

孟涛,张明照,王克军,郭晓莉,王伯雄..光栅纹影偏折法测量二维层化流体密度梯度[J].光学精密工程,2008,16(6):973-977,5.

基金项目

科技部中德科技合作重点项目(No.2003DFB00028) (No.2003DFB00028)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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