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红外装置ZnS窗口崩边原因分析与工艺改进

苗蓉丽

理化检验-物理分册2010，Vol.46Issue(1)：64-65,2.
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理化检验-物理分册2010，Vol.46Issue(1)：64-65,2.

红外装置ZnS窗口崩边原因分析与工艺改进

Broken Reason Analysis of ZnS Window Edge of Infrared Device and Process Improvement

苗蓉丽1

作者信息

  • 1. 中国空空导弹研究院,洛阳,471009
  • 折叠

摘要

关键词

红外装置/ZnS窗口/崩边/脆性断裂

分类

化学化工

引用本文复制引用

苗蓉丽..红外装置ZnS窗口崩边原因分析与工艺改进[J].理化检验-物理分册,2010,46(1):64-65,2.

理化检验-物理分册

OACSTPCD

1001-4012

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