信息与电子工程2010，Vol.8Issue(1)：87-90,4.
抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验
Electron irradiation test of anti-irradiation hardened package for home-made memory devices
卫宁 1王剑峰 1杜婕 1周聪莉 1郭旗 2文林2
作者信息
- 1. 航天时代电子公司,第771研究所,陕西,西安,710075
- 2. 中国科学院,新疆理化技术研究所,新疆,乌鲁木齐,830011
- 折叠
摘要
关键词
抗辐射封装/屏蔽/存储器芯片/电子辐照试验分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
卫宁,王剑峰,杜婕,周聪莉,郭旗,文林..抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验[J].信息与电子工程,2010,8(1):87-90,4.
