单片机与嵌入式系统应用Issue(1)：18-20,3.
RFID中多标签识别缺陷与防碰撞算法分析
Analysis of RFID Multi-tag Identification Defect and Anti-collision Algorithm
刘猛 1徐展1
作者信息
- 1. 电子科技大学,电子科学技术研究院,成都,610054
- 折叠
摘要
关键词
RFID/防碰撞/标签设计/分组算法分类
计算机与自动化引用本文复制引用
刘猛,徐展..RFID中多标签识别缺陷与防碰撞算法分析[J].单片机与嵌入式系统应用,2010,(1):18-20,3.
