原子能科学技术2010，Vol.44Issue(1)：124-128,5.
电荷耦合器件的~(60)Coγ射线和电子辐射损伤效应
Radiation Damage Effect on Charge-Coupled Devices During ~(60)Co Gamma Ray and Electron Irradiation
李鹏伟 1郭旗 2任迪远 1于跃 1王义元 1高博2
作者信息
- 1. 中国科学院,新疆理化技术研究所,新疆,乌鲁木齐,830011
- 2. 中国科学院,研究生院,北京,100049
- 折叠
摘要
关键词
电荷耦合器件/位移损伤/γ射线/电子辐照Key words
charge-coupled device/displacement damage/gamma ray/electron irradiation分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李鹏伟,郭旗,任迪远,于跃,王义元,高博..电荷耦合器件的~(60)Coγ射线和电子辐射损伤效应[J].原子能科学技术,2010,44(1):124-128,5.
