现代电子技术2010，Vol.33Issue(6)：40-42,3.
基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制
Research on ARM-based Portable Platform for Transistor Parameter Measurement
袁秋晨 1姚益武 1董利民1
作者信息
- 1. 北京工业大学,电子信息与控制工程学院,北京,100124
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摘要
关键词
晶体管参数测量平台/S3C2410/Windows CE.NET/ARM/处理器分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
袁秋晨,姚益武,董利民..基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制[J].现代电子技术,2010,33(6):40-42,3.
