电子器件2010，Vol.33Issue(4)：416-419,4.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2010.04.005
SOI器件X射线与60Coγ射线总剂量效应比较
Correlation between X-Ray and 60Coγ-Ray Total Dose Effect in SOI Devices
摘要
关键词
可靠性/辐射/总剂量效应/X射线/γ射线分类
电子信息工程引用本文复制引用
何玉娟,罗宏伟,恩云飞,张正选..SOI器件X射线与60Coγ射线总剂量效应比较[J].电子器件,2010,33(4):416-419,4.基金项目
重点实验室基金项目资助(9140C030604070C0304) （9140C030604070C0304）
国家十一五预研项目资助(51323060401) （51323060401）
