计算机与数字工程2010，Vol.38Issue(9)：66-69,4.
基于BIST的FPGA测试方法研究
Study of Test Method Based on BIST for FPGA
高成 1杨超 1鹿靖 1陈政平1
作者信息
- 1. 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,100191
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摘要
关键词
FPGA/BIST/查找表分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
高成,杨超,鹿靖,陈政平..基于BIST的FPGA测试方法研究[J].计算机与数字工程,2010,38(9):66-69,4.
