哈尔滨工程大学学报2010，Vol.31Issue(4)：533-536,4.DOI:10.3969/j.issn.1006-7043.2010.04.021
强流脉冲电子束诱发单晶铜表层的缺陷结构
Structural defects on the surface of single-crystal copper induced by a high-current pulsed electron beam
摘要
关键词
强流脉冲电子束/单晶铜/空位簇缺陷/应力/变形机制分类
数理科学引用本文复制引用
顾倩倩,王雪涛,朱健,邱冬华,程秀围,关庆丰,储金宇..强流脉冲电子束诱发单晶铜表层的缺陷结构[J].哈尔滨工程大学学报,2010,31(4):533-536,4.基金项目
国家自然科学基金资助项目(50671042) （50671042）
江苏大学科技创新团队及高级人才基金资助项目(07JDG032). （07JDG032）
