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用于强反射表面形貌测量的投影栅相位法

姜宏志赵慧洁李旭东李冬

光学精密工程2010，Vol.18Issue(9)：2002-2008,7.

光学精密工程2010，Vol.18Issue(9)：2002-2008,7.DOI:10.3788/OPE.20101809.2002

Projected fringe profilometry for profile measurement of high reflective surface

姜宏志 ¹赵慧洁 ¹李旭东 ¹李冬¹

作者信息

强反射表面/投影栅相位法/三维形貌测量

通用工业技术

姜宏志,赵慧洁,李旭东,李冬..用于强反射表面形貌测量的投影栅相位法[J].光学精密工程,2010,18(9):2002-2008,7.

国家863高技术研究发展计划资助项目(No.2008AA042403) （No.2008AA042403）

长江学者和创新团队发展计划资助项目(No.IRT0705) （No.IRT0705）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1004-924X

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