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SiC单晶片ELID超精密磨削氧化膜特性研究

肖强 李言 朱育权

人工晶体学报2010,Vol.39Issue(4):1055-1059,5.
人工晶体学报2010,Vol.39Issue(4):1055-1059,5.

SiC单晶片ELID超精密磨削氧化膜特性研究

Research on Oxide Layer Characteristics in ELID Pre-dressing Process of SiC Single Crystal Slice

肖强 1李言 2朱育权1

作者信息

  • 1. 西安理工大学机械与精密仪器工程学院,西安,710048
  • 2. 西安工业大学机电工程学院,西安,710032
  • 折叠

摘要

关键词

SiC单晶片/ELID磨削/氧化膜/占空比/电解电压

分类

化学化工

引用本文复制引用

肖强,李言,朱育权..SiC单晶片ELID超精密磨削氧化膜特性研究[J].人工晶体学报,2010,39(4):1055-1059,5.

基金项目

陕西省重点实验室建设基金项目资助(No.09JS099) (No.09JS099)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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