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ZnO压敏陶瓷冲击老化的电子陷阱过程研究

尹桂来 李建英 尧广 成鹏飞 李盛涛

物理学报2010,Vol.59Issue(9):6345-6350,6.
物理学报2010,Vol.59Issue(9):6345-6350,6.

ZnO压敏陶瓷冲击老化的电子陷阱过程研究

Research on electronic process of impulse degradation of ZnO-based ceramics

尹桂来 1李建英 1尧广 1成鹏飞 2李盛涛1

作者信息

  • 1. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049
  • 2. 西安工程大学理学院,西安,710048
  • 折叠

摘要

关键词

ZnO压敏陶瓷/非线性系数/冲击老化/压敏电压

引用本文复制引用

尹桂来,李建英,尧广,成鹏飞,李盛涛..ZnO压敏陶瓷冲击老化的电子陷阱过程研究[J].物理学报,2010,59(9):6345-6350,6.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:50747047和50977071)和中央高校基本科研业务费专项资金(批准号:2009xjtujc06)资助的课题. (批准号:50747047和50977071)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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