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密封电子元器件微粒碰撞噪声自动检测系统的研究

王世成 王国涛 翟国富 王传延

计算机与数字工程2010,Vol.38Issue(9):1-4,12,5.
计算机与数字工程2010,Vol.38Issue(9):1-4,12,5.

密封电子元器件微粒碰撞噪声自动检测系统的研究

Research on Particle Impact Noise Auto Detecting System for Sealed Electronic Components

王世成 1王国涛 2翟国富 1王传延1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学军用电器研究所,哈尔滨,150001
  • 2. 陆军航空兵学院直升机机载设备系,北京,101123
  • 折叠

摘要

关键词

密封电子元器件/多余物/微粒碰撞噪声检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王世成,王国涛,翟国富,王传延..密封电子元器件微粒碰撞噪声自动检测系统的研究[J].计算机与数字工程,2010,38(9):1-4,12,5.

计算机与数字工程

OACSTPCD

1672-9722

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