计算机与数字工程2010，Vol.38Issue(9)：23-27,5.
数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析
Analysis on Calibration Principle and Test Structure for Digital IC Test System
摘要
关键词
测试/校准/通道/电平/时序/图形分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
贺志容,韩红星,刘文捷..数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析[J].计算机与数字工程,2010,38(9):23-27,5.
