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单片机测试向量生成技术研究

胡勇 李轩冕 贺志容

计算机与数字工程2010，Vol.38Issue(9)：90-92,150,4.
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计算机与数字工程2010，Vol.38Issue(9)：90-92,150,4.

单片机测试向量生成技术研究

Test Pattern Generating Technology Research for Microcontroler

胡勇 1李轩冕 1贺志容1

作者信息

  • 1. 武汉数字工程研究所,武汉,430074
  • 折叠

摘要

关键词

测试系统/测试向量/单片机

分类

动力与电气工程

引用本文复制引用

胡勇,李轩冕,贺志容..单片机测试向量生成技术研究[J].计算机与数字工程,2010,38(9):90-92,150,4.

计算机与数字工程

OACSTPCD

1672-9722

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