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常温和高温环境下电磁继电器触点侵蚀及失效模式分析

翟国富 王其亚 程贤科 陈志君

电工技术学报Issue(9):P.80-86,7.
电工技术学报Issue(9):P.80-86,7.

常温和高温环境下电磁继电器触点侵蚀及失效模式分析

翟国富 1王其亚 1程贤科 2陈志君2

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学军用电器研究所,哈尔滨150001
  • 2. 桂林航天电子有限公司,桂林541002
  • 折叠

摘要

关键词

电磁继电器/环境温度/失效模式/触点侵蚀

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

翟国富,王其亚,程贤科,陈志君..常温和高温环境下电磁继电器触点侵蚀及失效模式分析[J].电工技术学报,2010,(9):P.80-86,7.

基金项目

民用航天科研预先研究资助项目(B1220062302) (B1220062302)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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