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Mg掺杂量和退火温度对MgxZn1-xO:Al紫外透明导电薄膜结构与性能的影响

王华 黄竹 许积文 杨玲

人工晶体学报2010,Vol.39Issue(5):1206-1210,5.
人工晶体学报2010,Vol.39Issue(5):1206-1210,5.

Mg掺杂量和退火温度对MgxZn1-xO:Al紫外透明导电薄膜结构与性能的影响

Effects of Mg Doping Content and Annealing Temperature on Structure and Properties of MgxZn1-xO:Al UV-transparent Conducting Thin Films

王华 1黄竹 1许积文 1杨玲1

作者信息

  • 1. 桂林电子科技大学材料科学与工程学院,桂林,541004
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摘要

关键词

MgxZn1-xO:Al/紫外透明导电薄膜/Mg掺杂/光电性能

分类

数理科学

引用本文复制引用

王华,黄竹,许积文,杨玲..Mg掺杂量和退火温度对MgxZn1-xO:Al紫外透明导电薄膜结构与性能的影响[J].人工晶体学报,2010,39(5):1206-1210,5.

基金项目

广西教育厅科研项目(No.200734) (No.200734)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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