计算机工程2009，Vol.35Issue(23)：30-31,34,3.
基于软件过程度量的正交缺陷分类技术
Orthogonal Defect Classification Technology Based on Software Process Measurement
李新军 1刘晓明 1黄松1
作者信息
- 1. 解放军理工大学指挥自动化学院,南京,210007
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摘要
关键词
正交缺陷分类/软件过程度量/缺陷类型Key words
Orthogonal Defect Classification(ODC)/software process measurement/defect type分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李新军,刘晓明,黄松..基于软件过程度量的正交缺陷分类技术[J].计算机工程,2009,35(23):30-31,34,3.
