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单片机技术在时间继电器测试中的应用

钱金川 贾文军 朱守敏

低压电器Issue(2):53-56,4.
低压电器Issue(2):53-56,4.

单片机技术在时间继电器测试中的应用

Application of SCM Technology in Time Relay Test

钱金川 1贾文军 2朱守敏3

作者信息

  • 1. 上海高企电器有限公司,上海,201602
  • 2. 三信国际电器上海有限公司
  • 3. 浙江泰华电器有限公司,浙江,温州,325604
  • 折叠

摘要

关键词

时间继电器/延时参数/测试/单片机/电磁兼容

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

钱金川,贾文军,朱守敏..单片机技术在时间继电器测试中的应用[J].低压电器,2010,(2):53-56,4.

低压电器

OA北大核心

2095-8188

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