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小型断路器可靠性增长的研究

卜浩民 胡伟芳 张兰晶 李兴伟

低压电器Issue(7):1-5,30,6.
低压电器Issue(7):1-5,30,6.

小型断路器可靠性增长的研究

Research on Reliability Growth of MCB

卜浩民 1胡伟芳 1张兰晶 1李兴伟1

作者信息

  • 1. 上海良信电器股份有限公司,上海,200137
  • 折叠

摘要

关键词

小型断路器/可靠性/故障模式/瞬动保护成功率

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

卜浩民,胡伟芳,张兰晶,李兴伟..小型断路器可靠性增长的研究[J].低压电器,2010,(7):1-5,30,6.

低压电器

OA北大核心

2095-8188

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