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基于CPLD技术的耐压测试系统研究

马正华 刘培媛 周炯如

常州大学学报(自然科学版)2010,Vol.22Issue(2):62-65,4.
常州大学学报(自然科学版)2010,Vol.22Issue(2):62-65,4.

基于CPLD技术的耐压测试系统研究

Dielectric Voltage Withstanding Testing System Based on CPLD

马正华 1刘培媛 1周炯如1

作者信息

  • 1. 常州大学信息科学与工程学院,江苏常州,213164
  • 折叠

摘要

关键词

可编程复杂逻辑器件/耐压测试/模/数转换

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

马正华,刘培媛,周炯如..基于CPLD技术的耐压测试系统研究[J].常州大学学报(自然科学版),2010,22(2):62-65,4.

常州大学学报(自然科学版)

OACSTPCD

2095-0411

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