液晶与显示2010，Vol.25Issue(2)：215-219,5.
基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计
Design of Defect Inspection System for FED Electrodes Based on Probe Method
摘要
关键词
FED电极/CCD/单片机/Visual C++/缺陷检测Key words
FED electrodes/CCD/single-chip microcomputer/Visual C++/defect inspection分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
张永爱,张杰,许华安,姚亮,郭太良..基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计[J].液晶与显示,2010,25(2):215-219,5.基金项目
国家"863"计划平板显示重大专项(No.2008AA03A313) （No.2008AA03A313）
福建省科技厅资助省属高校项目(No.2008F5001) （No.2008F5001）
福州大学科技发展基金(No.2008-XY-11) （No.2008-XY-11）
