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退火对硅锗薄膜上低维结构的PL光谱的影响

吴克跃 宋军 吴兴举

四川大学学报(自然科学版)2009,Vol.46Issue(4):1043-1046,4.
四川大学学报(自然科学版)2009,Vol.46Issue(4):1043-1046,4.

退火对硅锗薄膜上低维结构的PL光谱的影响

A study of annealing effect on the photoluminescence of the low-dimensional structures on the SiGe alloy

吴克跃 1宋军 1吴兴举1

作者信息

  • 1. 皖西学院数理系,六安,237012
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摘要

关键词

硅锗合金/低维结构/光致荧光光谱/界面态

分类

数理科学

引用本文复制引用

吴克跃,宋军,吴兴举..退火对硅锗薄膜上低维结构的PL光谱的影响[J].四川大学学报(自然科学版),2009,46(4):1043-1046,4.

基金项目

安徽省教育厅自然科学基金(KJ2008B269) (KJ2008B269)

皖西学院青年自然科学基金(WXZQ0706) (WXZQ0706)

四川大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

0490-6756

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