电工技术学报2010，Vol.25Issue(10)：129-135,7.
沿面闪络和丝状电流对光电导开关的损伤机理
Injuring Mechanism of Surface Flashover and Filamention to the Photoconductive Switch
摘要
关键词
半绝缘GaAs光电导开关/沿面闪络/丝状电流/损伤分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
马湘蓉,施卫,薛红,纪卫莉..沿面闪络和丝状电流对光电导开关的损伤机理[J].电工技术学报,2010,25(10):129-135,7.基金项目
国家重点基础研究发展计划(973计划)(2007CB310406)和国家自然科学基金(50837005,10876026)资助项目. （973计划）
