现代电子技术2010，Vol.33Issue(10)：149-151,3.
基于NI Multisim 10与LabVIEW的单结晶体管伏安特性测试
Volt-ampere Characteristic Testing of Unijunction Transistor Based on NI Multisim10 and LabVIEW
宗爱芹1
作者信息
- 1. 上海海事大学,高等技术学院,上海,200136
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摘要
关键词
单结晶体管/伏安特性/Multisim 10/虚拟仪器/LabVIEW分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
宗爱芹..基于NI Multisim 10与LabVIEW的单结晶体管伏安特性测试[J].现代电子技术,2010,33(10):149-151,3.
