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水介质形成线泄漏电阻对充电效率的影响

张北镇谭杰曹绍云向飞李春霞

强激光与粒子束2010，Vol.22Issue(1)：221-224,4.

强激光与粒子束2010，Vol.22Issue(1)：221-224,4.DOI:10.3788/HPLPB20102201.0221

Influence of leakage resistance on charging efficiency of water dielectric pulse forming line

张北镇 ¹谭杰 ¹曹绍云 ¹向飞 ¹李春霞¹

作者信息

脉冲功率/形成线/泄漏电阻/充电效率

pulse power/pulse forming line/leakage resistance/charging efficiency

信息技术与安全科学

张北镇,谭杰,曹绍云,向飞,李春霞..水介质形成线泄漏电阻对充电效率的影响[J].强激光与粒子束,2010,22(1):221-224,4.

国家高技术发展计划项目（）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1001-4322

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