信息与电子工程2010，Vol.8Issue(5)：594-597,4.
故障树分析测试用例生成技术研究与应用
Research and application on FTA testing case generating technology
漆莲芝 1张军 1谢敏1
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院,电子工程研究所,四川,绵阳,621900
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摘要
关键词
故障树分析/故障树最小割集/安全性约束条件/测试用例分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
漆莲芝,张军,谢敏..故障树分析测试用例生成技术研究与应用[J].信息与电子工程,2010,8(5):594-597,4.
