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一种可以表征铁电晶体管存储性能退化的宏模型

刘福东 康晋锋 安辉耀 刘晓彦 韩汝琦

北京大学学报(自然科学版)2009,Vol.45Issue(6):989-994,6.
北京大学学报(自然科学版)2009,Vol.45Issue(6):989-994,6.

一种可以表征铁电晶体管存储性能退化的宏模型

A Modified Macro Model of FEFET for FEDRAM Application

刘福东 1康晋锋 1安辉耀 1刘晓彦 1韩汝琦1

作者信息

  • 1. 北京大学微电子学研究院,北京,100871
  • 折叠

摘要

关键词

铁电动态随机存储器/铁电场效应晶体管/宏模型/HSPICE/模拟

Key words

FEDRAM/FEFET/macro model/HSPICE/simulation

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘福东,康晋锋,安辉耀,刘晓彦,韩汝琦..一种可以表征铁电晶体管存储性能退化的宏模型[J].北京大学学报(自然科学版),2009,45(6):989-994,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(90407023) (90407023)

北京大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

0479-8023

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