实验科学与技术2011，Vol.9Issue(2)：37-39,3.
迈克尔逊干涉仪测量平行透明物厚度或折射率
Refractive Index or Thickness of the Parallel Transparency Measured by Michelson Interferometer
万伟 1周竣峰 1邵剑波 1王余刚1
作者信息
- 1. 西南科技大学理学院,四川绵阳,621002
- 折叠
摘要
关键词
迈克尔逊干涉仪/等倾干涉/条纹直径分类
数理科学引用本文复制引用
万伟,周竣峰,邵剑波,王余刚..迈克尔逊干涉仪测量平行透明物厚度或折射率[J].实验科学与技术,2011,9(2):37-39,3.
