高压电器2009，Vol.45Issue(5)：87-91,95,6.
紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷
Detecting Breakage Defect of Post Insulator with Ultraviolet Imaging Method
雷红才 1臧春艳 2蒋正龙 1何爽 2赵新杰 2叶会生 1尹小根 2何俊佳2
作者信息
- 1. 湖南省电力公司实验研究院,湖南,长沙,410007
- 2. 华中科技大学电气与电子工程学院,湖北,武汉,430074
- 折叠
摘要
关键词
紫外成像/绝缘子破损/电晕放电分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
雷红才,臧春艳,蒋正龙,何爽,赵新杰,叶会生,尹小根,何俊佳..紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷[J].高压电器,2009,45(5):87-91,95,6.
