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用扫描电镜分析铜阀门渗漏原因

刘照斌

理化检验-物理分册2010，Vol.46Issue(2)：143-144,2.
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理化检验-物理分册2010，Vol.46Issue(2)：143-144,2.

用扫描电镜分析铜阀门渗漏原因

Leakage Analysis on the Copper Valves by SEM

刘照斌1

作者信息

  • 1. 辽宁师范大学,实验中心,大连,116029
  • 折叠

摘要

关键词

扫描电镜/X射线能谱仪/渗漏

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

刘照斌..用扫描电镜分析铜阀门渗漏原因[J].理化检验-物理分册,2010,46(2):143-144,2.

理化检验-物理分册

OACSTPCD

1001-4012

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