针对目前像素级边缘检测算子存存精度较低,难于实现黑片零件缺陷检测的高速度,高精度的要求,提出了一种基于Zernike矩的黑片图像亚像索边缘检测方法.实验结果表明,该方法测量精度高,定位精确,提取的边缘坐标能达亚像素级,可应用于黑片缺陷的在线检测.
作者：罗敏;王琰
作者单位：沈阳理工大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳,110168沈阳理工大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳,110168
分类：信息技术与安全科学
中文关键词：边缘检测Zernike矩黑片亚像素
刊名：《数字技术与应用》 2009 (11)
页码/页数：120-120,1
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