|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|无线电通信技术|支持边界扫描测试的电路设计

支持边界扫描测试的电路设计

李鑫 刘伟

无线电通信技术2009，Vol.35Issue(6)：42-45,4.
✕
无线电通信技术2009，Vol.35Issue(6)：42-45,4.

支持边界扫描测试的电路设计

Design of Circuit Board Supporting BST

李鑫 1刘伟1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十四研究所,河北,石家庄,050081
  • 折叠

摘要

关键词

边界扫描测试/TAP/可测试性设计

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李鑫,刘伟..支持边界扫描测试的电路设计[J].无线电通信技术,2009,35(6):42-45,4.

无线电通信技术

1003-3114

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文