现代电子技术Issue(21)：182-185,4.
自举高端驱动浮动地负过冲闭锁问题
Latch-up Problem Resulting from Negative Undershoot of High-voltage-side Floating Reference in Bootstrap Gate-drive IC
王友军1
作者信息
- 1. 解放军理工大学,理学院,江苏,南京,210007
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摘要
关键词
高压集成电路/功率MOS栅驱动集成电路/电平位移/自举/闭锁分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王友军..自举高端驱动浮动地负过冲闭锁问题[J].现代电子技术,2009,(21):182-185,4.
