原子能科学技术1999，Vol.33Issue(1)：50-55,6.
质子、氚和α在Ar和Kr中的径迹长度测量与计算
THE MEASUREMENT AND CALCULATION OF TRACK LENGTH (X)FOR PARTICLES p, t AND α IN Ar AND Kr
摘要
关键词
屏栅电离室/径迹长度(X)/实验测量/理论计算分类
能源科技引用本文复制引用
张国辉,唐国有,陈金象,施兆民..质子、氚和α在Ar和Kr中的径迹长度测量与计算[J].原子能科学技术,1999,33(1):50-55,6.基金项目
中国核工业总公司和中国核数据中心资助项目 （）
