计量学报2010，Vol.31Issue(z2)：107-111,5.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2010.z2.25
2m比长仪纳米级高精度刻线自动瞄准系统
Auto Aiming System for Lines with Nanometer Accuracy of 2m Length Comparator
叶孝佑 1高宏堂 1邹邻丁 1张晓 2甘晓川 1孙双花 1常海涛 3沈雪萍 1陈黎云1
作者信息
- 1. 中国计量科学研究院,北京,100013
- 2. 浙江计量科学研究院,浙江,杭州,310013
- 3. 北京航空航天大学,北京,100191
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摘要
关键词
计量学/比长仪/动态校准/位移传感器分类
通用工业技术引用本文复制引用
叶孝佑,高宏堂,邹邻丁,张晓,甘晓川,孙双花,常海涛,沈雪萍,陈黎云..2m比长仪纳米级高精度刻线自动瞄准系统[J].计量学报,2010,31(z2):107-111,5.
